CTP10 - 無源光器件測試平臺
性能強大的無源光器件測試平臺，適用于測試WDM器件和光子集成電路
主要優點
掃頻測量插損（IL）、偏振相關損耗（PDL）或回損（RL）
業內*支持全波段PDL測量，覆蓋從1260 nm到1620 nm的波長
以100 nm/s的速度進行單次掃描，動態范圍>70 dB，精度為±5 pm，分辨率為1 pm
配備強大的圖形用戶界面（GUI），內置*分析功能
通過SCPI命令實現全自動化操作
采用可擴展的架構，適用于研發和制造環境
描述
CTP10是一種模塊化測量平臺，可高效地全天候測試無源器件。通過它，您能夠動態范圍、速度和分辨率執行插損（IL）、偏振相關損耗（PDL）或回損（RL）測量。CTP10是測量高速WDM網絡中的新型大端口數光器件和和光子集成電路（PIC）的理想設備。它可以結合T100S-HP系列掃頻可調諧激光器，在幾秒鐘內完成IL-RL或IL-PDL測量。
下一代平臺和模塊
CTP10平臺可安裝多達10個熱插拔模塊，包括用于光譜鑒定的各種關鍵模塊（IL-RL OPM2或IL-PDL模塊）、波長控制模塊（SCAN SYNC和FBC模塊）以及檢測模塊（OPMx模塊）。這些*集成的模塊可以熱插拔，從而大大減少設置時間，并提供一個非常靈活、不斷發展的測試解決方案。
CTP10內置操作系統，可處理大量的數據。它還提供一個可擴展的架構，由多8個測試站共享一個或多個可調諧激光器，并添加一個輔助主機，以測試100多個端口。
性能強勁
CTP10可進行非常迅速的掃頻IL RL或PDL光譜測量。它提供不折不扣的高性能，并在全速測試時達到規格要求。OPMx免測距系列光檢測器能夠以100 nm/s的速率、1 pm的分辨率進行掃描，測量的動態范圍超過70 dB，從而大幅提高制造和研發能力。OPMx檢測器還可以測量高達10 dB/pm（10000 dB/nm）的清晰光譜特征，使CTP10成為未來測量波長可選擇開關（WSS）或環形諧振器等下一代器件的可靠工具。
GUI強大直觀
CTP10圍繞三個關鍵原則被開發出來：集成、性能和自動化。其內置軟件提供強大、直觀的GUI，從而簡化測試配置和測量過程。CTP10可無縫地控制外接可調諧激光器，讓您專注于真正重要的事情：測量和分析數據。GUI集成了一整套工具以分析通帶（如WDM或WSS）和阻帶濾波器。
